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  产品中心>LCR 测试仪/电桥>日本日置HIOKI
  阻抗分析仪IM3570    
  浏览:14021次   

阻抗分析仪IM3570

 

    

阻抗分析仪IM3570

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
· 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
· LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
· 基本精度±0.08%的高精度测量
· 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
· 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
· 主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

 

 

    

阻抗分析仪IM3570

 

测量模式

LCRLCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量

测量参数

ZYθRsESR)、RpRdc(直流电阻)、XGBCsCpLsLpDtanδ)、Q

测量量程

100mΩ~100MΩ12档量程(所有参数由Z确定)

显示范围

ZYRsRpRdcXGBLsLpCsCp±0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅ZY显示绝对值

θ±0.000°~999.999°),D±0.000000~9.999999

Q±0.00~99999.99),%±0.0000%~999.9999%

基本精度

Z±0.08%rdg. θ±0.05°

测量频率

4Hz~5MHz10mHz~100Hz步进)

测量信号电平

V模式,CV模式(普通模式)

50mV~1Vrms1mVrms步进(1MHz以下)

10mV~1Vrms1mVrms步进(1.0001MHz以上)

CC模式(普通模式)

10μA~50mA rms10μA rms步进(1MHz以下)

10μA~10mA rms10μA rms步进(1.0001MHz以上)

输出阻抗

普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

显示

彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间

0.5ms100kHzFAST,显示OFF,代表值)

测量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能

接口

EXT I/ORS-232CGP-IBUSB通讯,U盘,LAN

电源

AC90~264V50/60Hz,最大150VA

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用94429593-019446

接口

GP-IBRS-232CEXT.I/O(所有标准)

电源

AC90~264V50/60Hz,最大150VA

体积和重量

330W×119H×307Dmm5.8kg

附件

电源线×1

 

 

    

阻抗分析仪IM3570

 

探头和测试治具

 

4端口探头L2000

DC~5MHz1m

测试冶具 9262

直接连接型, DC5 MHz

测试冶具 9263

DC~5MHz,直接连接型,测试样品尺寸:1mm~10mm

 

SMD测试治具9677

用于侧面有电极的SMD
DC~120MHz
,测试样品
尺寸:3.5mm±0.5mm

SMD测试治具9699

用于底部有电极的SMD
DC~120MHz
,测试样品
尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下

 

PC通讯

 

GP-IB连接线9151-02

2m

 

 

 

 

打印机

 

打印机9670

供电电源为AC适配器9671或电池组9672

AC适配器9671

用于9670100~240V AC

电池组9672

用于96707.4VDC/1600mAh

 

RS-232C连接线9638

9pin-25pin,交叉型,1.8m

记录纸9237

80mm×25m4

 

    阻抗分析仪IM3570

 

 
 
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